电子电器仪器仪表检测制造生产销售
更新时间:2024-11-13 09:39:33 浏览次数:5 公司名称: 注销
产品参数 | |
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产品价格 | 电议 |
发货期限 | 电议 |
供货总量 | 电议 |
运费说明 | 电议 |
注销凭借良好的信誉,雄厚的实力,优质的产品,低廉的价格,周到的服务赢得了广大客户的信赖。我们在“诚信务实,追求卓越”的经营理念指导下,不断进步。主营产品:(江苏南通) 本地 江苏南通实验室设备仪器计量。本公司在长期的经营业务中与各大厂建立了长期稳固的业务合作关系。
世通检测是一家通过CNAS认可的专业第三方计量公司,校准能力CNAS范围包含691项,现拥有国内 计量标准和精密仪器1000余套。属于东莞计量学会理事单位。我司所使用标准器为行业 或较高,且都经过 或区域 计量部门的检定校准。
二、地域优势:都在中国地区,工程师们全程高速按约定时间到达贵司提供下厂服务。我司所有标准器都配备定制防震金属箱,取送客户仪器使用加厚海绵打包后再装箱,确保仪器运输过程无损。
三、服务优势:
1.计量工程师工作严谨、认真,并全部获授权许可的专业计量检定员证上岗
2.我机构通过中国合格 评定认可委员会认可(华南实验室和华东实验室)
3.所有送检仪器5-7个工作日内完成送检任务
4. 校准过程中,仪器超差,给予免费开机调试
5. 客户无法送检仪器设备,我司安排计量工程师到客户现场校准仪器设备和调试技术服务
6. 免费下厂服务,免费取件及送件服务.
7. 我机构出具计量校准检定报告数据,经过CNAS认可第三方法定校准实验室,具有权威性和公正性
公司分布在全国各省各地--售后服务更便捷!!! 周经理weixing:ShiTong1018
四、配套服务:
1)世通检测目前设有校准技术部,涉及仪器校准、仪器计量、仪器外校,调试等,我们可以为贵司及实验室提供一站式服务。
2)世通检测将会不定期组织各类研讨会议、行业交流活动等。此类资讯我司将会及时向贵公司推送,贵司可根据实际情况安排人员前来参加。具体有:CNAS实验室研讨会、仪器仪表新品发布会、内校员培训等。
五、品牌优势:
世通检测成立于2005年,注册资金一千万,实验室遍布广东、江苏 重庆和上海等地,业务范围遍及全国,服务过的客户逾十万家、技术能力及品牌影响力均处于业界领先水平。期待能有机会合作,谢谢!
世通检测:周华玲 1-3-8-2-6-9-8-1-3-0-7
光照培养箱维护
1、培养箱外壳应可靠接地。
2、为保证冷凝器有效地散热,冷凝器与墙壁之间距离应大于100mm,箱体侧面应有50mm间隙,箱体顶部至少应有300mm空间。
3.培养箱要放置在阴凉、干燥、通风良好、远离热源和日晒的地方。放置平稳,以防震动发生噪音。
4、光照时间可由“可编程时控器"自行编程、控制时间。编程方法请参照“可编程时控器"使用说明。
5、仪器忽然不工作,请检查熔丝管(箱后)是否烧坏,检查供电情况。
6、培养箱在搬运、维修、保养时,应避免碰撞,摇晃震动, 倾斜度小于45度。
7、本培养箱制冷工作时,不宜使箱内温度与环境温度之差大于25度。
世通仪器校准机构,是一家专业做仪器校准的机构,并出具权威的 认可CNAS校准,本公司余2005年10月24日成立,实验室包括有:广东世通实验室,江苏世通实验室,重庆世通实验室,上海世通实验室,福建世通实验室,西安世通实验室,成都世通实验室。全国下厂服务的第三方 认可的机构,3-5天出,世通在全国各地均设有工程部,欢迎致电详谈!
共有理化,长度,电学,无线电,热工,轻工检测,综合类检测,恒温恒温室,光学,声学共十个实验室,共有各专业技术人员三百余名,有多名拥有高级职称及研究生以上,规模也为行业领跑者! 我们公司也是一家在江苏、上海、福建、浙江,重庆,陕西,成都等地设立多个实验室的检测机构。欢迎您来公司参观考察!希望有机会为贵司提供服务.
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小周告诉你温度冲击试验箱疑难杂症 不用担心这里有解决办法
两箱式温度冲击试验箱分为高温室和低温室,其箱体结构设计采用独特的断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物完全静止,应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。在试验过程中我们也许会碰到试验箱提篮不工作,出现此类现象的原因是什么呢?
1、温度冲击试验箱提蓝卡死,打开试验箱门,目测提篮是否有卡住现象;
2、气动电磁阀损坏,导致气缸气路无法切换,提篮只能停留在起始位置,气缸内部不密封;
3、外部电源未供气或调压阀损坏;
4、钢丝绳松动或断裂。
两箱式温度冲击试验箱符合标准:
GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T10592-2008 高低温箱技术条件
GJB150.-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB360A-1996方法107温度冲击试验的要求
GJB 360.7-1987 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验